紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系，紅外樹(shù)脂等材料對可見(jiàn)光不透過(guò)，這樣的樣品殘余應力評估很難實(shí)現，為此Photonic Lattece 專(zhuān)門(mén)研制了WPA-NIR雙折射測量?jì)x，采用850nm或940nm波長(cháng)，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

應力雙折射測量系統WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機鏡頭等小尺寸鏡頭的應力雙折射測量設備。鏡片的雙折射現象會(huì )造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產(chǎn)過(guò)程中*的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，并能高速完成各項測量。

應力雙折射測量系統WPA-200-L系列是Photonic lattic公司以其L先世界的光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)，高速而又精q的測量能力使其成為不可多得的光學(xué)測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布?？蓽y數千nm高相位差分布的萬(wàn)用機器，Z適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。

應力雙折射測量系統WPA系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其光子晶體制造技術(shù)開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品，*的測量技術(shù)使其成為*的光學(xué)測量產(chǎn)品。該產(chǎn)品在測量過(guò)程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場(chǎng)上的萬(wàn)能機器，適合用來(lái)測量光學(xué)薄膜或透明樹(shù)脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀(guān)的讀取數據。